用于電子產(chǎn)品的高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)。通過(guò)試驗(yàn)考察電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的工作性能和技術(shù)狀態(tài)。

高低溫試驗(yàn)箱由溫度試驗(yàn)箱、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)、控制儀表、通訊接口等部分組成。

本試驗(yàn)設(shè)備禁止：

易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存